製品名
エレクトロニクス 中⇒日

異物検査装置

高感度で高速な異物検査を実現　波長切替方式　特許取得済
液晶ガラス基板、フィルム、樹脂材、等々各種Sampleの表面異物検査、傷検査、内部異物検査
お客様のSampleに合わせて自動で検査光源波長を切り替えて高速高分解能で検査を行います。
お客様のご要望ご仕様に合わせて設置スペースの問題や分解能のカスタマイズも可能です。

製品詳細

LineScanType

AreaType（本画像参考はG10.5size　約8秒で検査→検査結果送信。画像保存まで完了）

CV Scan Type

備考

仕様に応じてAreaType/LineScanType/CV Scan Type 3種類ご用意できます。

製造メーカー：株式会社エフケー光学研究所
詳細お気軽にお問合せ下さい。